ĐO LƯỜNG KHÔNG CÓ XÚC CHẠM BỀ DÀY BĂNG

Khung C (X-Ray) Thiết bị quang tuyến và Thiết bị đồng vị hoạt động với khẩu độ 120 đến 500mm (có thể rộng hơn). Có thể sử dụng trong mọi điều kiện của môi trường. Ưu điểm Ít phải bảo trì, Có thể dùng để đo tiết diện. Ưu điểm đặc biệt của thiết bị đo không xúc chạm của chúng tôi Thiết bị được thiết kế rất mỏng (thí dụ 120mm bề ngang của Khung C). Loại thiết kế mỏng này cho phép áp dụng Khung C lấy rời được kể cả trong thiết bị cán nhỏ hẹp nhất. Các thiết kế khác nhau của bộ phận điều khiển dựa trên SPS S7 bảo đảm các ưu điểm của một hệ thống mở và sự một sự nối kết linh hoạt. X-Ray and Isotope Gauges - Tài liệu để hạ tải (Tiếng Đức/Tiếng Anh) NonContact.pdf (986 KB) Thiết bị quang tuyến Trị số nhiễu đặc biệt thấp Trị số nhiễu thấp (0,08%) cho ta kết quả đo tốt nhất, kể cả với băng tải chạy nhanh và thời gian tổng hợp ngắn (10ms hay ngắn hơn). Đặc biệt thuận lợi nếu có thêm phép phân tích FFT mà nhờ đó ta có thể phát hiện sự chênh lệch sinh ra một cách tuần hoàn về độ dày của băng. Thiết bị đồng vị Cấu trúc đơn giản - hầu như khỏi phải bảo trì Với một thời gian tổng hợp 50ms nó sinh ra trị số nhiễu cũng tương đối nhỏ. Điểm đặc biệt trong kết cấu: hộc cho nguồn đồng vị cấu tạo bằng chất Wolfram.